TWP-W188型 表面磁光克爾效應實驗系統(tǒng)

TWP-W188型表面磁光克爾效應實驗系統(tǒng)是在原實驗系統(tǒng)的基礎上改進提高而成，儀器的整體性能和實驗穩(wěn)定度均得到了明顯的改善。

首先，實驗平臺改掉了光學鐵板的形式，采用硬鋁黑色陽極氧化的方式，這樣大大提高了光學平臺的可移動性和光學性能，臺面采用 M6固定螺孔的方式來連接各個光學元件，這樣整個光學調節(jié)完成后可以減少不必要的移動和改變，對后面實驗操作帶來了方便。

其次，儀器測試靈敏度提高了一倍，這樣最終的測試信號整體穩(wěn)定性得到了大大改善，這樣可以進一步研究單原子層厚度的磁性薄膜的性質，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方面的研究中發(fā)揮更重要的作用。

再有，環(huán)形電磁鐵進一步改進，在不改變中心最大磁感應強度的情況下，縮小磁鐵結構，這樣更加有利于與超高真空系統(tǒng)連接，對磁性薄膜和超薄膜進行原位測量。

儀器主要技術參數(shù)：

1.實驗平臺 光學減振組合式實驗臺，臺面尺寸 1200×900mm，M6螺孔，孔距25×25mm，

2.高穩(wěn)定度半導體激光器，波長 650nm，輸出功率 2mW左右，最小光斑直徑1mm。

3.偏振棱鏡 通光孔徑 8mm，消光比 10 -5 ，主透比90％。

4.環(huán)形電磁鐵 中心最大磁感應強度約 2800Gs，磁間隙30mm

5.精密恒流電源 最大電壓38V，最大輸出電流 10A。